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USAF透射光路測(cè)試板
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 更新時(shí)間：2023-12-20
- 產(chǎn)品介紹：USAF透射光路測(cè)試板是采用電鑄工藝制作在很薄的鎳片上去除掉多余材料。由于在圖案區(qū)域沒有光學(xué)材料，光線通過空氣傳播，這樣就去除了色差和吸收問題，本測(cè)試板圖案函蓋了0組圖，1組元到3組圖，6組元。使用者手冊(cè)里詳細(xì)概括了各組圖和組元的位置。UV熔融石英熒光測(cè)試卡（上方）可用在NUV場(chǎng)合，而透射光路測(cè)試板可用在遠(yuǎn)紫外以及遠(yuǎn)紅外的場(chǎng)合。這種電鑄模式的標(biāo)板裝在兩個(gè)圓板之間，可以安裝到我們的標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)裝置#64
- 廠商性質(zhì)：代理商
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產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學(xué)元件 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子 |
USAF透射光路測(cè)試板
可測(cè)量X射線，紫外光，近紅外以及遠(yuǎn)紅外成像系統(tǒng)的分辨率
安裝方便
可用在透射場(chǎng)合
USAF透射光路測(cè)試板是采用電鑄工藝制作在很薄的鎳片上去除掉多余材料。由于在圖案區(qū)域沒有光學(xué)材料，光線通過空氣傳播，這樣就去除了色差和吸收問題，本測(cè)試板圖案函蓋了0組圖，1組元到3組圖，6組元。使用者手冊(cè)里詳細(xì)概括了各組圖和組元的位置。UV熔融石英熒光測(cè)試卡（上方）可用在NUV場(chǎng)合，而透射光路測(cè)試板可用在遠(yuǎn)紫外以及遠(yuǎn)紅外的場(chǎng)合。這種電鑄模式的標(biāo)板裝在兩個(gè)圓板之間，可以安裝到我們的標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)裝置#64565上。
| 標(biāo)題 | 產(chǎn)品編碼 |
| 直徑38mm USAF透射光路測(cè)試板 | #58-402 |
| 技術(shù)信息 | ||||
| Element | Group No. | |||
| 0 | 1 | 2 | 3 | |
| 1 | 1.00 | 2.00 | 4.00 | 8.00 |
| 2 | 1.12 | 2.24 | 4.49 | 8.98 |
| 3 | 1.26 | 2.52 | 5.04 | 10.10 |
| 4 | 1.41 | 2.83 | 5.66 | 11.30 |
| 5 | 1.59 | 3.17 | 6.35 | 12.70 |
| 6 | 1.78 | 3.56 | 7.13 | 14.30 |
